SICA-2000 光譜成像測色分析儀

產(chǎn)品概述：

SICA-2000光譜成像測色分析儀采用遠方高光譜測色專利技術(shù)，采用CIE D/8測量幾何，可快速獲得混色、形狀不規(guī)則以及小尺寸等材料的光譜圖像，并對圖像各區(qū)域的顏色和光譜進行分析，并可對“無法測量的材料”實現(xiàn)數(shù)字化高精度測量，非常適用于紡織品、紡織飾物（紐扣、按鈕、拉鏈等）、建筑材料、航空航天材料、油漆、涂料等各行業(yè)。