NSTAR-200 近紅外光譜透反射性能測量系統(tǒng)
產(chǎn)品概述：
NSTAR-200近紅外光譜透反射測量系統(tǒng)集反射和透射測量功能于一體，用于測量材料的光譜反射率/光譜透過率，測量波段范圍覆蓋780-1600nm。系統(tǒng)應(yīng)用遠(yuǎn)方公司多項專利技術(shù)，可快速精確測量近紅外寬波段范圍內(nèi)光譜透反射率，系統(tǒng)測量靈敏度高，穩(wěn)定性、復(fù)現(xiàn)性好，雜散光小，可滿足較低透反射率的深色樣品測量，主要用于各類材料研發(fā)實(shí)驗室。
